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PCB灌封后温度冲击试验方法

  • 作者:东莞市三茗化工科技有限公司
  • 发布时间:2013/10/23
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LSI塑料封装的可靠性试验实例:
环境试验:温度循环一(-55~150℃ 10个循坏)、温度循环二(-55~150℃ 200个循坏)、焊点耐热性(260℃±5℃ 10s)、焊点附着性(230℃±5℃ 5s)、热冲击(-65~150℃ 5个循环;
寿命试验:高温放置(125℃ 1000h)、低温放置(-25℃ 1000h)、高温高湿放置(65℃ RH≥95% 1000h 或85℃ RH≥95% 1000h)、高温高湿偏置(85℃ RH≥85% 1000h)、PCT(121℃ RH=100% 100h)、高温动作(125℃ 1000h);
MCM模块的各种可靠性试验:
■热环境试验: (前者为MCM-L非气密性封装,后者为MCM-C气密性封装)
温度循环试验—-25℃/RT/125℃ 15/5/15min 500次;-25℃/RT/125℃ 15/5/15min 1000次;
热冲击试验— 0℃—100℃ 100次循环(气相);-55—125℃ 100次循环(液相);
压力锅试验— MCM-L无 ; 121℃ 2026hpa RT 100%;
■寿命试验:(前者为MCM-L非气密性封装,后者为MCM-C气密性封装)
连续高温工作试验: 60℃ 1000h; 100℃ 1000h;
高温保存试验:85℃ 1000h; 125℃ 1000h;
低温保存试验:-25℃ 1000h;-55℃ 1000h;
高温高湿偏置试验:60℃/90% 50h; 85℃/85% 1000h;

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