1.太阳辐射(日照)试验：
　　这是一项对暴露在阳光下的电器及其制造材料进行的试验。太阳辐射可引起光化学效应和热效应。在大多数情况下，这项试验可以代替高温试验。通过日照试验可检验太阳辐射对电器或有关材料的使用或露天存储的影响。
　　2.防潮试验：
　　试验适用于可能在温暖潮湿的环境中使用的电器。热带地区全年、中纬度地区一年有长短不等的季节就是这种温暖潮湿的环境。试验的目的是检验电器对温暖 潮湿的环境的适应能力。
　　3.高温试验：
　　试验中电器处于高温空气中，但不受到阳光直接照射。试验针对高温季节在室内或密闭空间中或接近发动机等热源处储藏或使用电器的情形。仅当太阳辐射试验不能检验高温效应时才进行这项试验。试验的目的是检验在高温环境中储藏或使用 的性能。
　　4.低温试验：
　　试验适用于在寿命周期中很可能在低温环境中使用的试件。试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制和作战。
　　5.热冲击试验：
　　试验适用于在预定的使用区域或使用模式中经常经受极迅速温度变化的电器。目前仅进行空气中的热冲击试验，将来有可能进行从空气进入到水中的热冲击试验。进行热冲击试验的目的是检验环境温度骤然变化对兵器性能的影响。
　　6.防霉试验：
　　温暖和潮湿是微生物生长的条件，广泛存在于热带和中纬度地区。所有标准通用电子元器件在设计时都应考虑防霉问题。试验的目的是评定电器发生霉变的程度 和霉变对兵器性能或使用的影响程度。

　　7.盐雾试验：
　　盐在地球上分布非常广泛。海洋、大气、地面、湖水和河流中都有盐，尤以沿海地区含盐量比较大，海洋中含盐量最大。不与盐接触的电子元器件是没有的。因此，所有的电子元器件在其寿命周期中都处于某种形式的盐环境中。盐雾试验的目的是检验含盐潮湿大气对电子元器件性能的影响，特别是检验涂覆保护层的性能和材料的相容性。

　　8.浸水试验：
　　浸水试验包括浸水、滴水和加压水试验。浸水试验适用于要求水密性的装备和全部或部分浸入水中使用的装备。在某些情况下，这项试验可以代替淋雨试验检验水密性。试验的目的是检验电子元器件浸入水中不漏水的能力。

　　9.冻雨试验：
　　试验适用于在正常使用中会遇到冻雨的装备。试验的目的是为了检验雨、雾和溅起的海水落在装备上结冰后对装备使用性能的影响，还用于评定除冰装置和技术
　　10.低压(高空)试验：
　　试验适用于在飞机货舱中空运的电器。试验的目的是检验电子元器件在低压环境中的使用性能以及压力迅速下降对电子元器件性能的影响。

　　11.沙尘试验：

　　试验适用与在干沙或尘土含量比较高的空气中使用的所有机械的、电的、电子的和电化学的电器。试验分为扬尘试验和扬沙试验。扬尘试验使用尘土和细沙，细小的尘埃可以进入缝隙、裂缝、轴承和连接处。扬沙试验使用149～850μm(微米)的沙粒，大而锋利的沙粒能产生侵蚀和阻塞作用，降低装备的有效性、可靠性和维修性。沙尘试验的目的是检验电器在沙尘环境中的使用和存储能力。

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